WBE-KSH1000/Testkamer voor snelle temperatuurverandering

Het teststuk kan worden onderworpen aan temperatuurstresstests (ESS), temperatuur- en vochtigheidsscreening, betrouwbaarheidstests, enz. Veelgebruikte temperatuurstijgingssnelheden zijn 5°C/min, 10°C/min, 15°C/min, 20°C/min en 25°C/min.

Toepassingsgebieden:

Halfgeleiderchips, wetenschappelijke onderzoeksinstellingen, kwaliteitsinspectie, nieuwe energie, opto-elektronische communicatie, lucht- en ruimtevaart en militaire industrie, auto-industrie, LCD-scherm, medische en andere technologie-industrieën.

Testnormen:

GB/T 2423.1 Testmethode bij lage temperatuur, GJB 150.3 Testmethode bij hoge temperatuur, GB/T 2423.2 Testmethode bij hoge temperatuur, GJB 150.4 Test bij lage temperatuur, GB/T2423.34 Testmethode voor vochtigheidscyclus, GJB 150.9 Vochtigheidstestmethode, IEC60068-2 Testmethode voor temperatuur en vochtigheid, MIL-STD-202G-103B Testmethode voor vochtigheid

Productkenmerken:

1. Het product voldoet aan zowel lineaire als niet-lineaire temperatuurhellingsvereisten.
2. Het voldoet aan de vereisten voor temperatuurrampsnelheid van 5 °C / min tot 30 °C / min.
3. Optionele functies zijn onder meer vloeibare stikstof, vochtige warmte en anticondensatie.
4. Gebruikmakend van elektronische expansiekleptechnologie en een innovatief besturingssysteem, bereikt het product energiebesparingen van meer dan 45%.