Het wordt gebruikt om de prestaties van verschillende producten op het gebied van hittebestendigheid en koudebestendigheid te testen. Voornamelijk gebruikt in halfgeleiderchips, wetenschappelijke onderzoeksinstellingen, kwaliteitsinspectie, nieuwe energie, opto-elektronische communicatie, militaire ruimtevaartindustrie, auto-industrie, LCD-scherm, medische en andere hightechindustrieën
Het wordt gebruikt om de prestaties van verschillende producten op het gebied van hittebestendigheid en koudebestendigheid te testen. Voornamelijk gebruikt in halfgeleiderchips, wetenschappelijke onderzoeksinstellingen, kwaliteitsinspectie, nieuwe energie, opto-elektronische communicatie, militaire ruimtevaartindustrie, auto-industrie, LCD-scherm, medische en andere hightechindustrieën
Testnormen:
1.B/T 2423.1 Testmethode bij lage temperatuur
2.GJB 150.3 test op hoge temperatuur
3.GB/T 2423.2 testmethode op hoge temperatuur
4.GJB 150.4 test bij lage temperatuur
